北京世紀朝陽科技發展有限公司

當前位置:首頁 > 產品> 顆粒表征> 微米粒度

EyeTech粒度分析儀

EyeTech Combi是顆粒分析最終解決方案,它集成了先進的LOT(激光光阻法)與專業的圖像處理識別技術,提供樣品粒度、粒形和濃度數據等完整的顆粒表征。獨特的激光阻隔時間分析技術(LOT),可快速準確地進行粒度分析;通過使用視頻的精密動態圖像分析技術,準確描述非球形材料;其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關。

在線咨詢
  • 詳細說明
  • 主要特點
  • 典型應用
  • 選件

  • EyeTech粒度粒形分析儀集成了先進的LOT(激光光阻法)與專業的圖像處理識別技術,提供樣品粒度、粒形和濃度數據等完整的顆粒表征。

    • 獨特的激光阻隔時間分析技術(LOT),可快速準確地進行粒度分析;

    • 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術,準確描述非球形材料;

    • 其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關。


    EyeTech粒度粒形分析儀卓越的靈活性可為用戶提供:

     

    • 監測動力學過程

    • 通過記錄大小vs形狀繪制多維數據

    • 分析復雜數據以反應分布中的次要分布

    • 通過從數據庫中調用記錄圖片來識別分布中的單個粒子

    • 生成標準體積和數量分布結果


    激光光阻測量技術與視頻分析生成的綜合信息,可通過直觀的數據報告軟件輕松訪問。 結果可以顯示在大量的表格和圖表中,可以自定義以顯示所需的信息。 軟件可以輕松進行數據比較,從而可以多圖疊加顯示或編輯數據對比表。 只需單擊鼠標,便可在WORD文檔中生成示例報告。 該文件包括有關樣品制備,尺寸和形狀結果的信息,并附有樣品的圖像或視頻:

    • 自動生成測量報告

    • 定制實時圖表

    • 方便重新處理存儲的圖像

    • 設定多個用戶級別

    • 安裝向導輕松啟動

    • 符合21 CFR Part 11審計追蹤處理


    EyeTech是一個模塊化測量系統,可以安裝多種不同的測試單元。 隨著快速更換測量單元,這款多功能儀器可以分析液體,乳劑,干粉,纖維,磁性顆粒,加熱液體和氣霧劑中的顆粒。這種應用導向的測量方法可確保您的樣品根據其特定性質進行測量。

    • 獨特的激光阻隔時間分析技術(LOT),可快速準確地進行粒度分析

    • 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術,準確描述非球形材料

    • 其測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關

    • ACM-101 磁力攪拌樣品槽

    • ACM-102 機械攪拌樣品槽

    • ACM-104 流通樣品槽

    • ACM-104L 纖維流通樣品槽

    • ACM-106 氣溶膠流通樣品槽

    • ACM-108 微流通樣品槽

    • ACM-110 顯微鏡載玻樣品槽

    • ACM-112 粉末自由下落樣品槽

    • AC-10 氣溶膠流量控制單元

    • LFC-101 液體流量控制器

    • PD-10 粉體分散器


010-62081909

北京世紀朝陽科技發展有限公司 北京世紀朝陽科技發展有限公司
北京世紀朝陽科技發展有限公司
华东15选5app